Il PI 640i Microscope Accessory Kit trasforma la termocamera PI 640i in un microscopio termico per l'analisi di schede, componenti e chip. Ottica dedicata, stativo e piastra base con tappetino ESD permettono di osservare punti caldi e distribuzioni di temperatura con dettagli fino a 28 µm, o 8 µm con l'ottica a ingrandimento 2X.
Il kit è disponibile in due configurazioni. La versione con ottica da microscopio da 12° × 9°, focale di 44 mm e distanza di lavoro da 80 a 100 mm, raggiunge un IFOV di 28 µm per pixel e misura nei campi da -20 a 100 °C, da 0 a 250 °C e da 150 a 900 °C. La versione MO2X, a ingrandimento 2X, inquadra un'area di 5,4 × 4,0 mm da 15 mm di distanza e scende a 8 µm per pixel, con campi di misura fino a 500 °C.
Entrambe lavorano nella banda da 8 a 14 µm, con accuratezza di ±2 °C o ±2 % e NETD di 80 mK. La versione standard comprende ottica, cavo USB e cavo I/O da 1 m con morsettiera, stativo, piastra base con tappetino ESD, software e valigia IP67. La MO2X aggiunge uno stativo con regolazione macro e micro, utile quando la distanza di lavoro ridotta richiede una messa a fuoco fine.
Le applicazioni tipiche sono la validazione di PCB, la ricerca di difetti e hotspot su componenti, lo studio termico di MEMS e semiconduttori. Il kit è dedicato alla termocamera PI 640i. I nostri tecnici aiutano a scegliere la configurazione in base alla dimensione dei dettagli da analizzare.
PI 640i
12° × 9°, focale 44 mm, F 1,1
da 80 a 100 mm
28 µm
da -20 a 100 °C, da 0 a 250 °C, da 150 a 900 °C
ingrandimento 2X, 10° × 8°, focale 60 mm, F 1,3
5,4 × 4,0 mm a 15 mm
8 µm
da -20 a 100 °C, da 0 a 250 °C, da 150 a 500 °C
da 8 a 14 µm
±2 °C o ±2 %
80 mK
da 0 a 50 °C
ottica, stativo, piastra base con tappetino ESD, software, valigia IP67