optoCONTROL 2700

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Misurazioni submicrometriche con correzione attiva dell’inclinazione

Il micrometro ottico optoCONTROL 2700 di Micro-Epsilon è progettato per applicazioni industriali che richiedono la massima precisione nella misura di diametri, fessure, bordi, spessori e segmenti. Grazie alla correzione attiva dell’inclinazione e alla risoluzione digitale di 10 nm, offre prestazioni elevate anche in ambienti difficili e su oggetti inclinati fino a 45°, senza necessità di allineamento ortogonale.

Il sistema è disponibile in due versioni con campi di misura da 10 mm e 40 mm, e integra il controller direttamente nel ricevitore, semplificando l’installazione. La configurazione avviene tramite l’interfaccia web, con visualizzazione in tempo reale per un allineamento rapido e preciso.

Campo di misura

10 | 40 mm

Risoluzione

10 nm

Diametro minimo degli oggetti

10 | 40 mm

Linearità

≤ 0,5 µm

Altre caratteristiche
  • Correzione attiva dell’inclinazione del target in tempo reale
  • Misurazione dell’angolo del target rispetto al piano XY nel fascio di luce
  • 6 preimpostazioni per le misurazioni più comuni
  • Datasheet OptoCONTROL-2700
  • Catalogo Micrometri OptoCONTROL-ODC