optoCONTROL 2700

Brand:

Micrometro LED ad alta precisione con risoluzione submicrometrica

Nelle applicazioni di metrologia avanzata dove la risoluzione submicrometrica è un requisito di progetto — controllo di componenti ottici, ispezione di fili e microcomponenti, qualifica dimensionale in produzione medicale — uno strumento che corregge in tempo reale l'inclinazione del pezzo elimina una delle principali fonti di errore sistematico. L'optoCONTROL 2700 è un micrometro a luce LED compatto per la misura senza contatto di diametro, gap, spigolo e segmento, con risoluzione fino a 10 nm e controller integrato nel ricevitore.

La scelta della sorgente LED al posto del laser non è una compromesso: consente di ottenere un fascio uniforme e stabile che, combinato con un'elettronica di acquisizione ad alta velocità (tempo di esposizione 8,5 µs), garantisce una linearità ≤ 0,5 µm — un ordine di grandezza superiore rispetto ai micrometri ottici convenzionali. La risoluzione a 10 nm apre il campo a misure che tradizionalmente richiederebbero interferometri o sistemi da banco, in un formato compatto e installabile inline. Sono disponibili due campi di misura — 10 mm e 40 mm — con capacità di rilevare oggetti a partire da 0,05 mm, utile nella verifica di fili sottili, aghi medicali, fibre e componenti microelettronici. L'elemento tecnicamente più distintivo dell'optoCONTROL 2700 è la correzione attiva dell'inclinazione in tempo reale: oggetti inclinati fino a 63° rispetto all'asse del fascio vengono misurati con la stessa accuratezza di un pezzo perfettamente ortogonale, senza necessità di riallineamento meccanico del setup. Questo si traduce in una riduzione concreta dei tempi di messa a punto e in una maggiore robustezza del processo di misura in condizioni di produzione reale. Il sistema supporta sei preset preconfigurati per le modalità di misura più comuni — diametro, gap, spigolo, segmento — riducendo i tempi di configurazione per operatori non specializzati. La messa a punto avviene via interfaccia web con visualizzazione dell'immagine d'ombra per un allineamento rapido del pezzo. Il team tecnico di Luchsinger è disponibile per valutare la configurazione ottimale in funzione del campo di misura, della tipologia di oggetto e dell'architettura del sistema di acquisizione.

Campo di misura

10 | 40 mm

Risoluzione

10 nm

Linearità

≤ 0,5 µm

  • Datasheet OptoCONTROL-2700
  • Catalogo Micrometri OptoCONTROL-ODC