L’interferometro IMS5200-TH di Micro-Epsilon è progettato per misurazioni in linea rapide e ad alta precisione.
Il sistema misura lo spessore di materiali trasparenti inclusi nel range tra 1 e 100 µm, garantendo una precisione nanometrica e una linearità eccezionale inferiore a ±100 nm.
La versione “MP” Supporta anche la misurazione multistrato, con la possibilità di rilevare fino a cinque strati sottili. La frequenza di misura è regolabile in modo continuo da 100 Hz fino a 24 kHz, adattandosi facilmente a diverse velocità di processo.
Grazie alla lista di selezione dei materiali memorizzata, non è necessario indicarlo separatamente, consentendo così la massima flessibilità durante l'utilizzo.
da 1 a 100 µm
fino a 24 kHz
< ± 100 nm
< 1 nm
fino a 6 segnali (misurazione multistrato fino a 5 strati possibili)
Analogica 4-20mA, Analogica 0-10V, Ethernet, EtherCAT e RS422, PROFINET, EtherNet/IP [7]