L’interferometro a luce bianca interferoMETER 5200‑TH di Micro-Epsilon è una soluzione ad altissima precisione per la misurazione senza contatto dello spessore di strati trasparenti e film sottilissimi. Progettato per applicazioni industriali avanzate, consente misure affidabili su strati a partire da 1 µm, con accuratezza nanometrica e stabilità anche in processi dinamici.
Il sistema interferoMETER 5200‑TH (IMS5200‑TH) utilizza la tecnologia interferometrica a luce bianca per garantire misure di spessore estremamente precise e indipendenti dalla distanza, anche su oggetti in movimento. Questa caratteristica rappresenta un vantaggio fondamentale nei processi industriali in linee, dove variazioni di posizione o vibrazioni possono influenzare le tecnologie di misura tradizionali.
Il campo di misura tipico consente la determinazione dello spessore di strati trasparenti da 1 a 100 µm, mentre per la misura di intercapedini d’aria tra lastre di vetro il range può arrivare fino a circa 150 µm, in funzione dell’indice di rifrazione del materiale.
Grazie alla frequenza di acquisizione fino a 24 kHz, l’interferometro è ideale per processi rapidi e applicazioni ad alta dinamica, come il controllo di coating sottili, vetro tecnico, film plastici, materiali laminati e applicazioni nel settore semiconduttori. La versione multi‑peak consente la misurazione multistrato fino a cinque strati, permettendo l’analisi simultanea di più interfacce ottiche all’interno di un unico materiale trasparente, mantenendo un’elevata stabilità del valore di spessore.
Il sensore, ottimizzato per l’uso industriale, è alloggiato in una struttura metallica robusta ed è idoneo anche per applicazioni in vuoto, mentre il controller può essere installato su guida DIN all’interno del quadro elettrico. L’integrazione nei sistemi di automazione è semplificata dalle interfacce Ethernet, EtherCAT, RS422, uscite analogiche ed encoder, e la configurazione tramite interfaccia web, senza software aggiuntivo, riduce drasticamente i tempi di avviamento. Il risultato è un sistema interferometrico ad altissime prestazioni, pensato per produzione industriale, R&D e controllo qualità avanzato.
da 1 a 100 µm
fino a 24 kHz
< ± 100 nm
< 1 nm
fino a 6 segnali (misurazione multistrato fino a 5 strati possibili)
Analogica 4-20mA, Analogica 0-10V, Ethernet, EtherCAT e RS422, PROFINET, EtherNet/IP [7]