Gli shunt nelle celle solari al silicio rappresentano difetti che causano correnti di dispersione e calore localizzato, riducendo l’efficienza e provocando degrado nel tempo. Questi difetti, spesso invisibili, sono difficili da individuare con la termografia convenzionale in stato stazionario, a causa della conduzione termica laterale e del limite di sensibilità delle telecamere a infrarossi.
La tecnica di termografia lock-in illuminata (ILIT) consente invece di rilevare anche gli shunt più deboli analizzando il comportamento termico dinamico sotto eccitazione luminosa periodica. Applicando una luce modulata a frequenza fissa e osservando le risposte di ampiezza e fase della temperatura superficiale tramite telecamere a infrarossi, è possibile distinguere le aree difettose dal resto della cella.
L’uso della telecamera Xi400, con alta frequenza di frame e bassa rumorosità termica, permette un monitoraggio accurato e rapido, adatto all’ambiente produttivo di massa. Questa tecnica migliora il controllo qualità, riduce il degrado dei moduli e ottimizza la selezione delle celle solari, aumentando così la resa e la competitività del prodotto finale.
