Xi 400 Microscope Optics

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Termografia microscopica per PCB e componenti elettronici: risoluzione da 240 µm

Nelle schede elettroniche assemblate, i guasti termici si manifestano spesso su aree minuscole: giunzioni di saldatura difettose, componenti fuori specifica, cortocircuiti interni che conducono calore verso la superficie. Identificarli richiede un sistema in grado di misurare la temperatura su bersagli di poche centinaia di micrometri. Il pacchetto Xi 400 con ottica microscopica porta la termografia IR fino a bersagli da 240 µm, con messa a fuoco motorizzata e operazione hands-free.

Il sistema combina la termocamera Xi 400 da 382×288 pixel a 80 Hz con un obiettivo microscopico progettato specificamente per la banda LWIR (8-14 µm), ottimizzato per bersagli piccoli nella gamma dell'elettronica industriale. La dimensione minima del punto (IFOV) è di 80 µm, con un campo di misura accurata (MFOV) di 240 µm: il sistema rispetta la regola dei 3×3 pixel necessaria per la misura precisa della temperatura, a differenza di soluzioni con ottiche non dedicate che riportano solo l'IFOV senza specificare il reale limite di misura.

La distanza di lavoro variabile tra 90 e 110 mm consente di posizionare il campione su un supporto adeguato mantenendo libero l'accesso per i cavi di test e le sonde. La messa a fuoco motorizzata gestita da software elimina la necessità di intervento manuale durante la misura, permettendo di operare in modo continuativo su più campioni senza toccare il sistema ottico. Il frame rate di 80 Hz consente di seguire anche transitori termici rapidi come quelli indotti da impulsi di corrente su diodi o attuatori. Il software PIX Connect - incluso senza costi di licenza - registra video radiometrici e consente l'analisi offline fotogramma per fotogramma. Per applicazioni che richiedono una risoluzione spaziale superiore, il sistema PI 640i Microscope Optics raggiunge un MFOV di 85 µm con risoluzione VGA. Luchsinger supporta la valutazione della configurazione più adatta alla dimensione dei componenti da analizzare.

Dimensione dello spot

80 µm

Risoluzione

382 x 288 pixel

Campo di misura

da -20 a 1.500 °C

Temperatura operativa

fino a 50 °C

  • Data Sheet Optris Xi-400
  • White Paper - Electronics-Industry