Interferometro a luce bianca per la misura di spessore con accuratezza submicrometrica

A differenza dei sistemi che lavorano solo a ridosso del campione, questo interferometro misura lo spessore a una distanza di lavoro relativamente ampia e in modo indipendente dalla distanza dal target: il valore, accurato al nanometro, resta valido anche su oggetti in movimento. Il campo di misura è ampio e copre dagli strati sottili fino al vetro in lastra e ai film - indicativamente da alcune decine di micrometri fino a oltre un millimetro per il vetro - gestendo con un unico sistema applicazioni molto diverse. Poiché la sorgente lavora nel vicino infrarosso, è possibile misurare anche il vetro con trattamento antiriflesso. La variante con elaborazione multi-peak analizza più picchi di segnale simultaneamente e abilita la misura di spessore multistrato su materiali trasparenti e vetro stratificato, fino a cinque strati. La stabilità è l'elemento distintivo: la compensazione attiva della temperatura e il raffreddamento passivo del controller garantiscono risultati ripetibili nel tempo, con risoluzione inferiore al nanometro e linearità entro pochi centesimi di micrometro. Il sensore, compatto e robusto, si collega al controller tramite fibra ottica flessibile fino a 10 metri, permettendo di separare ottica ed elettronica; un laser pilota integrato ne semplifica l'allineamento. Il controller, in custodia metallica e installabile su guida DIN, è pensato per la linea di produzione, mentre la configurazione via interfaccia web evita ogni installazione software. Le applicazioni tipiche comprendono vetro tecnico e float, film e laminati trasparenti, vetro stratificato, rivestimenti, ottica di precisione, semiconduttori e laboratori di metrologia. Gli ingegneri Luchsinger affiancano il cliente nella scelta del modello di interferometro più adatto, bilanciando accuratezza, campo di misura e velocità in base all'applicazione.