Nei processi di controllo qualità dove la misura dimensionale inline deve garantire ripetibilità sub-micrometrica su componenti di dimensioni medio-grandi, uno strumento con elettronica integrata e connettività industriale nativa elimina complessità di sistema e riduce i tempi di integrazione. L'optoCONTROL 2520 è un micrometro laser di precisione con controller integrato, progettato per operare in continuo su linee di produzione e banchi di collaudo ad alto throughput.
Il parametro tecnico più rilevante dell'optoCONTROL 2520 è la risoluzione fino a 1 µm, abbinata a una linearità massima di 12 µm: valori che collocano questo strumento nella fascia alta dei micrometri ottici non a contatto, dove la qualità del dato di misura è determinante per classificazioni dimensionali stringenti. Sono disponibili due campi di misura — 46 mm e 95 mm — che coprono una gamma di applicazioni più ampia rispetto ai micrometri a campo ridotto, rendendolo adatto alla verifica di diametri di alberi, barre trafilate, profilati estrusi e componenti meccanici torniti. Un elemento progettuale distintivo è la libertà di posizionamento del target all'interno del fascio luminoso: il pezzo può trovarsi in qualsiasi punto tra trasmettitore e ricevitore senza influenzare la qualità della misura. La distanza variabile fino a 2 m tra le due teste ottiche consente di adattare il sistema a geometrie di impianto esistenti, riducendo la necessità di modifiche meccaniche. La configurazione avviene tramite interfaccia web con visualizzazione del segnale in tempo reale, impostazione di valori limite e selezione dei programmi di misura — senza software proprietario aggiuntivo. Sul fronte della connettività industriale, il 2520 supporta nativamente Ethernet, EtherCAT, EtherNet/IP, PROFINET, RS422 e uscita analogica, garantendo integrazione diretta con PLC, sistemi SCADA e ambienti di acquisizione dati in uso nei reparti produttivi. Il team tecnico di Luchsinger è disponibile per supportare la configurazione del sistema e la scelta del campo di misura più adatto all'applicazione specifica.
46 / 95 mm
12 µm
1 µm
Distanza variabile fino a 2 mLaser classe 1M
Misurazione del diametro dei profili
Controllo dei parametri sul nastro senza fine per le fascette
Controllo del bordo del nastro di pellicole di elettrodi
Ispezione dell’ovalizzazione delle sale montate
Misurazione del diametro di linee aeree di contatto
Ispezione di planarità su binari
Controllo del diametro del filo di saldatura
Posizionamento dei wafer durante la manipolazione
Misurazione dell'inclinazione dei wafer durante la manipolazione